Stockage de l’information – Propriétés de matériaux ferroélectriques étudiées par XPS/PEEM

Les mémoires à base de matériaux ferroélectriques pourraient constituer une alternative aux mémoires magnétiques pour de futurs périphériques de stockage de masse. De tels composants ont des avantages considérables : ils sont non volatiles, ont des temps de lecture-écriture courts, utilisent des tensions compatibles avec l’électronique à base de Silicium et consomment peu d’énergie. Cependant, pour envisager des applications basées sur de tels matériaux, une meilleure compréhension des propriétés électroniques de couches minces ferroélectriques est essentielle. Or, une telle caractérisation est souvent impossible avec les techniques conventionnelles. Des chercheurs de l’IRAMIS (CEA), de l’Institut des Nanotechnologies de Lyon (ECL), de l’UMRPhys CNRS/Thalès, de l’université d’Arkansas et de l’Institut d’Electronique Fondamentale (Université d’Orsay) ont étudié sur la ligne TEMPO des couches ultra-minces de matériaux ferroélectriques par spectroscopie et microscopie de photoélectrons, une technique d’analyse particulièrement adaptée.[Lire la suite]